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由于電子本能會(huì)尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會(huì)進(jìn)入彌補(bǔ)內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進(jìn)入內(nèi)層的過程中,它們會(huì)釋放出能量,我們稱之為二次X射線光子。而整個(gè)過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如,白剛玉分析儀,鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時(shí)間內(nèi)所出來的X射線的數(shù)量或者密度,能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時(shí)光子密度的分布情況。
因此,錳礦分析儀,控管熔煉過程中的含量比例相當(dāng)重要,利用桌上型XRF光譜儀EDX9000A靈敏度高、檢測(cè)下限低、再現(xiàn)性佳的特性,可以有效應(yīng)用于鋅合金的管控。
新型EDX9000A合金分析光譜儀代表了能量色散X射線熒光技術(shù)上的巨大突破。它帶來主量、微量和痕量元素含量水平多元素分析方面的突破性進(jìn)展。激發(fā)和檢測(cè)方面的新發(fā)展實(shí)現(xiàn)了杰出的靈敏度和檢測(cè)極限——大幅提高性和準(zhǔn)確度。
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