EMMI偵測(cè)的到亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)情況；原來(lái)就會(huì)有的亮點(diǎn)、熱點(diǎn)(Hot Spot)飽和區(qū)操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transistors /Saturated MOS)動(dòng)態(tài)式CMOS (Dynamic CMOS)二極管順向與逆向偏壓崩潰 (Forward Biased Diodes /Reverse Biased Diodes Breakdown)偵測(cè)不到亮點(diǎn)情況不會(huì)出現(xiàn)亮點(diǎn)的故障奧姆或金屬的短路(Ohmic Short / metal Short)亮點(diǎn)被遮蔽之情況埋入式接面的漏電區(qū)(Buried Juncti)金屬線底下的漏電區(qū)(Leakage Sites Under metal)




為解決生產(chǎn)生活中的實(shí)際問(wèn)題，激光開(kāi)封機(jī)，超聲波掃描顯微鏡應(yīng)運(yùn)而生，它可為許多成像提供的解決方案，超聲波掃描顯微鏡與普通的光學(xué)顯微鏡有著極大的差異，從工作原理上來(lái)說(shuō)，激光開(kāi)封機(jī)報(bào)價(jià)，它帶有聚焦功能的高頻超聲波換能器，激光開(kāi)封機(jī)廠家，業(yè)內(nèi)也將超聲波掃描顯微鏡的工作方式稱為逐點(diǎn)掃描，是對(duì)于材料內(nèi)部的檢測(cè)，它的成像圖像是內(nèi)部結(jié)構(gòu)圖像，納米級(jí)的分辨率要周邊產(chǎn)品，激光開(kāi)封機(jī)公司，下面小編就詳細(xì)的為您介紹一下超聲波掃描顯微鏡與普通的光學(xué)顯微鏡的差距。

（超聲波掃描顯微鏡)無(wú)損檢測(cè)

超聲掃描顯微鏡是一種利用超聲波為傳播媒介的無(wú)損檢測(cè)設(shè)備。在工作中采用反射或者透射等掃描方式來(lái)檢查材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒、夾雜物、沉淀物、內(nèi)部裂紋、分層缺陷、空洞、氣泡、空隙等。< br />< br />著作權(quán)歸作者所有。

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