EMMI可廣泛應(yīng)用于偵測各種組件缺陷所產(chǎn)生的漏電流，包括閘極氧化層缺陷(Gate oxide defects)、靜電放電破壞(ESD Failure)、閂鎖效應(yīng)(Latch Up)、漏電(Leakage)、接面漏電(Junction Leakage) 、順向偏壓(Forward Bias)及在飽和區(qū)域操作的晶體管，可藉由EMMI定位，找熱點(Hot Spot 或找亮點)位置，進而得知缺陷原因，精密制樣儀器，幫助后續(xù)進一步的失效分析。

半導(dǎo)體常用失效分析檢測儀器;

顯微鏡分析OM無損檢測

金相顯微鏡OM：可用來進行器件外觀及失效部位的表面形狀，尺寸，精密制樣，結(jié)構(gòu)，缺陷等觀察。金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微鏡與計算機（數(shù)碼相機）通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機（數(shù)碼相機）顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。金相顯微鏡可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及高等工業(yè)院校進行金屬學(xué)與熱處理、金屬物理學(xué)、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用，實現(xiàn)樣品外觀、形貌檢測  、制備樣片的金相顯微分析和各種缺陷的查找等功能。

超景深顯微鏡工作距離長，精密制樣設(shè)備公司，清晰范圍大，附件齊全操作方便?？蓮V泛應(yīng)用于衛(wèi)生，農(nóng)林地質(zhì)，電子精密機械等行業(yè)和部門，特別適合于LED，PCB檢驗，沖壓電鍍檢驗，電子元件檢驗。超景深顯微鏡觀察物體時能產(chǎn)生正立的三維空間像，立體感強，成像清晰和寬闊，具有較長的工作距離是適用范圍非常廣泛的常規(guī)顯微鏡。歡迎來電咨詢！




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