熔接完成之后，將顯示估算的熔接損耗。熔接損耗受下頁中列出的因素影響。這些因素在計算和估算熔接損耗時會被考慮進去。對熔接損耗的計算是基于一些空間的參數(shù)來計算，比如：模場直徑。當(dāng)熔接損耗或者是切割角度中的任何一個值超過它的設(shè)定極限的時候，熔接機都會顯示一個錯誤信息。如果熔接后的光纖被檢查出有反常情況，比如：過粗，過細，藤倉60s光纖熔接機維修，或者有氣泡，熔接機會顯示一個錯誤信息。當(dāng)沒有錯誤的信息顯示，但是通過顯示器觀察發(fā)現(xiàn)熔接的結(jié)果很差的時候，藤倉帶狀光纖熔接機維修，建議重新熔接。熔接點有時看起來比其余部分稍粗，這屬于正常的熔接，并不影響熔接損耗。要想改變光纖切割角度和估算熔接損耗的極限值，請參照[熔接模式]。錯誤信息，例如“估算熔接損耗”，“熔接角度”，“過粗”，“過細”以及“氣泡”等，能夠被忽略。這些功能可以被設(shè)置為“不可用”。在一些情況下，追加放電可以改善熔接損耗。按來進行追加放電，此時，接損耗會被重新的估算，同時重新對光纖進行檢查。在一些情況下，追加放電會增大熔接損耗，可以把追加放電設(shè)置為“不可用”，湘西藤倉60s光纖熔接機維修，或者限制放電的數(shù)目。熔接損耗增大

放電程序測試

（1）熔接機內(nèi)置放電試驗系統(tǒng)。使用者應(yīng)定期操作，以確保穩(wěn)定的融接質(zhì)量。在以下條件下使用熔接機時，也應(yīng)進行放電試驗：超高溫、超低溫、極干燥、極潮濕環(huán)境，電極劣化，光纖接續(xù)，光纖熔接機，清潔及更換電極后，或上述條件同時存在的情況下。

（2）放電試驗也按特定的熔接程序?qū)Ψ烹姀姸鹊囊?，自動調(diào)節(jié)放電參數(shù)，并根據(jù)放電高溫區(qū)域調(diào)整光纖中心位置。

（3）放電試驗需要使用兩根準(zhǔn)備接續(xù)的光纖。按照一般熔接的方法對光纖剝纖、切斷和放置（參見6頁§3．4制備光纖）。

程序測試

大氣的條件如溫度、濕度和氣壓經(jīng)常發(fā)生變化，會造成不同的電弧溫度。

由于電極的磨損和光纖碎屑粘結(jié)而造成的放電強度的改變不能自動修正。而且放電中心位置有時會向左或向右移動。

在以下條件下使用熔接機時，也應(yīng)進行放電試驗：超高溫、超低溫、極干

燥、極潮濕環(huán)境，電極劣化，光纖

接續(xù)，清潔及更換電極后，或上述條件

同時存在的情況下。

放電試驗也按特定的熔接程序?qū)Ψ烹姀姸鹊囊?，自動調(diào)節(jié)放電參數(shù)，并根據(jù)放電高溫區(qū)域調(diào)整光纖中心位置。步驟：

（1）放電試驗需要使用兩根準(zhǔn)備

接續(xù)的光纖。按照一般熔接的方法對

光纖剝纖、切斷和放置（參見5頁

制備光纖）。

（2）在待機狀態(tài)下，按<>鍵

進入“設(shè)置菜單”，上下箭頭移到“程序測試”，再按<>鍵開始放電試驗。

（3）放電試驗自動進行放電強度調(diào)。

重復(fù)試驗直到屏幕顯示“放電良好。

（4）程序測試完畢后，按<>鍵熔接機復(fù)位，并返回自動融接狀態(tài)。

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