自動光學檢測，英文名稱為AOI，是用來對裸板電路板和組裝電路板質量進行控制的主要方式之一。AOI一般可以發(fā)現(xiàn)大部分缺陷，存在少量的漏檢問題，不過主要影響其可靠性的還是誤檢問題。PCB加工過程中的粉塵、沾污和一部分材料的反射性差都可能造成虛1假報警，檢測不良標記廠，因此目前在使用AOI檢測出缺陷后，必須進行人工驗證。

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AOI自動光學檢測儀的分辨率應以像元的尺寸大小作為判別的條件，也就是空間分辨率來衡量。像素的大小不是判別AOI自動光學檢測儀的檢出能力的標準，檢測不良標記哪家好，準確地講，巫溪檢測不良標記，像素大是決定單位面積的像元尺寸大小的因素。如果單位面積不同，像素再高也沒有可比性。比如一臺AOI自動光學檢測儀的FOV為12*16毫米，如果這臺AOI采用的是30萬像素的相機，那么這臺AOI的分辨率只有25微米，它只能檢測0402以上封裝尺寸的元件。但如果這臺AOI自動光學檢測儀采用的是200萬像素的相機，那么這臺AOI的分辨率就變?yōu)?0微米，檢測不良標記廠家，就可以檢測01005以上封裝尺寸的元件。

自動光學檢測用于非傳統(tǒng)微孔加工表面質量檢查：

這些加工程序的制作工藝是不連續(xù)的，而且是“并行的加工過程，即在并行模式形成單層，zui后工序就是通過壓制合在一起。這樣加工的做出勢，就是加工的用的時間短，減少加工步驟，但要知道層的質量好壞，必須在層壓前進行檢查。

經(jīng)過加工的金屬經(jīng)過微蝕所看到的是不同的，有原有的銅或電鍍銅.在Z軸互連結構應該是銅或銀膏(在ALIVH或B"it 等積層工藝用的方法即導電膏) ，或銅表面經(jīng)過腐蝕液的沖擊和金屬層經(jīng)過處理的雙面( ALIVH)目的以改善粘結強度，但用反射模式的AOI機檢查更為困難。

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