為什么要校驗工業(yè)內(nèi)窺鏡的測量功能

校驗工業(yè)內(nèi)窺鏡的測量功能，是為了保證測量的準確性，就好比我們要先確定尺子是準確的，才能用它來丈量其他物品的尺寸，否則測量結(jié)果是沒有意義的。對于工業(yè)內(nèi)窺鏡這一工業(yè)檢測工具來說，這一點尤為重要，因為缺陷測量的結(jié)果很可能影響視情維護的決策，特別對于一些處于臨界狀態(tài)的缺陷，測量不準確可能導(dǎo)致錯誤的決策，甚至引發(fā)嚴重后果。

雙物鏡立體測量內(nèi)窺鏡

傳統(tǒng)雙物鏡立體測量技術(shù)是內(nèi)窺檢測中比較常用的測量方式，它利用仿生學(xué)原理根據(jù)兩個鏡頭之間的距離和其與被測點的夾角來確定觀測點距探頭的位置，也就建立了準確的幾何關(guān)系，從而完成測量的目的。因此再也不需要鏡頭垂直被測物體，一定程度上降低了孔探測量難度和強度。但是由于視野的問題，發(fā)現(xiàn)缺陷和測量缺陷需要使用不同的鏡頭，因此操作效率相對低一些，而且重復(fù)穿繞本身也會增大探頭受傷的幾率。另外，因為雙物鏡原理，屏幕圖像被一分為二不便于觀察和定位，鏡頭的視野也對應(yīng)減半，所能測量的區(qū)域受限明顯。尤其當(dāng)面對一些超過雙物鏡測量范圍的較大缺陷時，為了得到相對準確的數(shù)據(jù)，就無奈必須分段測量將結(jié)果累加。影響孔探測量效率和精度。這就亟待工業(yè)內(nèi)窺鏡具備缺陷的即發(fā)現(xiàn)即測量功能，同時盡量增大一次測量的范圍。

單物鏡陰影測量內(nèi)窺鏡

單物鏡陰影測量法是較早的非接觸式準確測量技術(shù)，該技術(shù)在鏡頭的前部有一條黑色刻線，當(dāng)光源照射到物體上時，黑線就會在被測對象上投影出陰影，探頭距離被測對象的遠近變化使陰影寬度和在屏幕上的位置也隨之變化。內(nèi)窺鏡主機系統(tǒng)會根據(jù)幾何運算原理做出定量的評定測量。這種測量技術(shù)同樣需要鏡頭與物體垂直，雖然是單物鏡視圖觀察及重新定位缺陷方便，但測量時還是需要更換專門的測量鏡頭，同時對操作者經(jīng)驗等要求較高，應(yīng)用有一定的局限性。