AOI系統(tǒng)包含以下部分構(gòu)成，照明系統(tǒng)、光學(xué)透鏡、CCD攝像系統(tǒng)、檢測(cè)工作臺(tái)、檢 測(cè)程序、預(yù)存模版、圖像處理識(shí)別系統(tǒng)、數(shù)據(jù)記錄處理系統(tǒng)構(gòu)成。其中預(yù)存模版是 能體現(xiàn)AOI系統(tǒng)能否匹配生產(chǎn)線(xiàn)的衡量標(biāo)準(zhǔn)，根據(jù)CAD程序設(shè)定，AOI系統(tǒng)可以自動(dòng) 獲得該生產(chǎn)線(xiàn)的正常品的各項(xiàng)指標(biāo)及參數(shù)，不需要向外采購(gòu)標(biāo)準(zhǔn)樣品，在生產(chǎn)線(xiàn)調(diào) 整和改造時(shí)，AOI設(shè)備也可以隨之做出調(diào)整，檢測(cè)更為靈活。

提良率、增產(chǎn)能——AOI設(shè)備必不可少。

對(duì)高清、超高清晰度和零缺陷電視機(jī)和移動(dòng) 設(shè)備的需求,要求平板顯示器制造商開(kāi)發(fā)更復(fù)雜的面板設(shè)計(jì),并實(shí)施更嚴(yán)格的生產(chǎn)過(guò) 程控制。液晶顯示器和OLED顯示器的檢測(cè),由于某些導(dǎo)體和絕緣體所使用的透明材 料、多層結(jié)構(gòu)和高密度特性以及潛在缺陷的精細(xì)性質(zhì),對(duì)技術(shù)提出了截然不同的挑戰(zhàn)。

傳統(tǒng)人工肉眼翻查缺陷檢測(cè)方式主觀性大，誤檢、漏檢率高?；跀?shù)字圖像處理的 AOI檢測(cè)設(shè)備具有精度高、速度快、無(wú)接觸的優(yōu)點(diǎn)，能夠克服人工檢測(cè)的弊端，在顯 示器缺陷檢測(cè)行業(yè)有良好的應(yīng)用前景，從前道的ITO玻璃檢測(cè)、背光模組檢測(cè)，到Cell 貼合、LCD模組的COG設(shè)備、對(duì)位貼合、切割機(jī)、飛針探測(cè)設(shè)備等，都離不開(kāi)AOI相 關(guān)設(shè)備；同時(shí)LCD和OLED的檢測(cè)、測(cè)試和維修過(guò)程也必須與LCD設(shè)備的高生產(chǎn)速度 相匹配,這一要求使得LECD和OLED制造商在新型顯示器需要識(shí)別設(shè)備，將會(huì) 拉動(dòng)對(duì)AOI的需求。LCD和OLED易受各種缺陷的影響,其中許多是由于生產(chǎn)中使用的 沉積、光刻和蝕刻工藝所致。在生產(chǎn)過(guò)程中檢測(cè)和修復(fù)這些缺陷使制造商能夠改進(jìn) 對(duì)其生產(chǎn)過(guò)程的監(jiān)視,避免成本進(jìn)一步昂貴的材料并大幅度提高其產(chǎn)量。

 AOl放置在貼裝機(jī)后、

焊接前——可對(duì)貼片質(zhì)量作工序檢測(cè)?？蓹z測(cè)元件貼錯(cuò)、元件移位、元件貼反(如電阻翻面)、元件側(cè)立、元件丟失、極性錯(cuò)誤、以及貼片壓力過(guò)大造成焊膏圖形之間粘連等。在AOI中存在的主要問(wèn)題是，當(dāng)一些檢查對(duì)象是 不可見(jiàn)的，或是在PCB上存在一些干擾使得圖像變得模糊 或隱藏起來(lái)了。的是采用頂部燈光和底部(水平)燈光兩種燈光照射——用頂部燈光照射焊點(diǎn)和Chip元件時(shí)，元件部分燈光反射到camera，而焊點(diǎn)部分光線(xiàn)反射出去。