檢查半導體材料硅和鍺是不是達到了高純度的要求時，就要用到光太陽光譜譜分析．在歷史l上，光譜分析還幫助人們發(fā)現了許多新元素．例如，銣和銫就是從光譜中看到了以前所不知道的特征譜線而被發(fā)現的．光譜分析對于研究天體的化學組成也很有用．十九世紀初，在研究太陽光譜時，發(fā)現它的連續(xù)光譜中有許多暗線。使用SPECTROCHECK的公司可以確保為其用戶提供經過嚴格成分檢測的高質量的金屬材料。

直讀光譜儀 FMXline

把試樣在能量的作用下蒸發(fā)、原子化(轉變成氣態(tài)原子)，并使氣態(tài)原子的外層電子激發(fā)至高能態(tài)。當從較高的能級躍遷到較低的能級時，原子將釋放出多余的能量而發(fā)射出特征譜線。這一過程稱為蒸發(fā)、原子化和激發(fā)，需借助于激發(fā)光源來實現。

德國斯派克臺式直讀光譜儀 金屬光譜分析儀 SPECTRO

ICAL智能邏輯標準化

升級版的專有ICAL標準化系統(tǒng)可以有效校正儀器，漂移和光強變化。ICAL標準化實現單塊標準代替了傳統(tǒng)光譜儀的多塊標準試樣校準過程，可以使每次用于標準化的時間節(jié)約30分鐘以上。

光學系統(tǒng)

SPECTROMAXx中獨特的光學系統(tǒng)和光學部件有效融合，經過嚴格密封，確保光室內部一塵不染，雙光學系統(tǒng)設置使波長范圍擴展至140nm——670nm。采用了優(yōu)化的帕邢——龍格架構，光學系統(tǒng)的機械結構異常堅固，同時減少了內部空間體積。內部恒溫、恒壓確保光學系統(tǒng)不受外界環(huán)境變化和影響。而對于復雜基體分析如環(huán)境監(jiān)測分析，xSORT無需復雜的樣品前處理，即可取得同類設備無法取得的低的元素檢測下限。

德國斯派克落地式火花直讀光譜分析儀SPECTROLAB M12

SPECTROLAB所有性能優(yōu)勢：

超級靈活的元素選擇

摒棄了以往耗時，昂貴的硬件通道擴展方式。大多數SPECTRLAB用戶日后增加元素通道將無需增加硬件設置。可選的軟件擴展設置使得用戶甚至可以不用準備標樣制作工作曲線。

超高靈敏度

利益于動態(tài)背景校正等新技術，檢測限達到新水平。SPECTROLAB可以準確測定百分之一（PPM）水平的痕量元素含量。

超高速測量

SPECTROLAB的設計是以抓住每一個機會來滿足金屬分析對速度的需求。例如，高能等離子發(fā)生器光源配合的動態(tài)預然控制，實現縮短試樣分析時間。因而，瞬間切換到激發(fā)測量階段。增加單位時間樣品測試數量。在許多應用中都可以實現超級短的分析時間。