FCT測(cè)試系統(tǒng)接口

隨著自動(dòng)測(cè)試技術(shù)的發(fā)展，傳統(tǒng)的人工測(cè)試正在逐漸被自動(dòng)測(cè)試所取代。GPIB和PXI等標(biāo)準(zhǔn)總線(xiàn)的出現(xiàn)大大簡(jiǎn)化了自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的開(kāi)發(fā)復(fù)雜度，構(gòu)建測(cè)試系統(tǒng)變成了組合各種儀器模塊。但是UUT的類(lèi)型還是復(fù)雜多樣的，尤其信號(hào)類(lèi)型也千變?nèi)f化；因此，設(shè)計(jì)一個(gè)良好的連接UUT和測(cè)試資源TR的測(cè)試接口ITA，是簡(jiǎn)化測(cè)試系統(tǒng)復(fù)雜度的關(guān)鍵。雖然由于此間隙的存在，定位精度會(huì)略有降低，但操作方便、制造簡(jiǎn)單。

fct功能測(cè)試治具定位原理

以“邊/孔”定位對(duì)于面積尺寸較大的電路板，可以采用“邊/孔”定位，這也屬于約束性過(guò)定位的一種。定位板限制2個(gè)自由度，定位柱限制2個(gè)自由度。這種形式中，通常定位柱和UUT定位孔的間隙需要留的更大一些。

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全自動(dòng)在線(xiàn)功能測(cè)試系統(tǒng)功能在線(xiàn)測(cè)試(ICT)：PCB開(kāi)路、短路、漏件、錯(cuò)件、變值、反向、虛焊、空焊（包括IC空焊）等。功能測(cè)試(FCT)：電壓、電流、功率、功率因素、頻率、占空比、轉(zhuǎn)速、LED亮度、位置測(cè)定、圖形識(shí)別、聲音識(shí)別、溫度測(cè)量以及控制、壓力測(cè)量控制、精密運(yùn)動(dòng)控制、FLASH、EEPROM在線(xiàn)燒錄等。FCT測(cè)試系統(tǒng)分類(lèi)按操作模式依操作模式的不同，功能測(cè)試系統(tǒng)可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。