在線3D AOI VS7000 3D 2D 結(jié)合算法

鏡面反射由于是全反射，在角度較高的焊點(diǎn)面上，很多信息無(wú) 法被相機(jī)捉到。相位偏移法無(wú)法獲取計(jì)算所需的足夠數(shù)據(jù)，所以對(duì)于高角度焊點(diǎn)面的檢測(cè)是 3D 的盲點(diǎn)，彩色 2D 可以彌補(bǔ)此缺陷，因此 3D 與 2D 結(jié)合的方式是檢測(cè)焊點(diǎn)理想的方式。在2004年，由于要求電子產(chǎn)品的體積越來(lái)越小，迫使制造商廣泛地用0402元件來(lái)取代0603元件和0805元件。無(wú)引腳浮起的開(kāi)焊及焊接部分的少錫也能被準(zhǔn)確檢測(cè)到。

隨著行業(yè)技術(shù)的快速提升以及勞動(dòng)力成本的不斷提高，自動(dòng)化、智能化在電子生產(chǎn)領(lǐng)域起著至關(guān)重要的作用。基于對(duì)市場(chǎng)和客戶的深入了解，成功推出了PCBA板級(jí)組裝領(lǐng)域及半導(dǎo)體芯片級(jí)封裝領(lǐng)域的自動(dòng)光學(xué)檢查機(jī)（AOI），產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。AOI（AutomatedOpticalInspection縮寫）的中文全稱是自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)，是基于光學(xué)原理來(lái)對(duì)焊接生產(chǎn)中遇到的常見(jiàn)缺陷進(jìn)行檢測(cè)的設(shè)備。

AOI產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于智能終端、可穿戴設(shè)備、電信網(wǎng)絡(luò)、航空航天、汽車電子等各個(gè)領(lǐng)域，為客戶提供高檢出、低誤報(bào)、簡(jiǎn)單易用、功能強(qiáng)大的視覺(jué)檢查系統(tǒng)。

AOI 被放在 SMT PCB 生產(chǎn)線上的四個(gè)不同生產(chǎn)步驟后的應(yīng)用。 (1) 錫膏印刷之后, 主要檢查焊膏印刷的情況; (2) 片式元件貼放之后, 以檢查貼片的正確與否, 可以較早地發(fā)現(xiàn)錯(cuò)誤, 減少成本; (3) 芯片貼放之后, 檢測(cè)系統(tǒng)能夠檢查 PCB 上缺失、偏移、歪斜的芯片及芯片極性的錯(cuò)誤; (4) 回流焊接之后, 在生產(chǎn)線的末端。無(wú)參考校驗(yàn)法不需要任何參考圖象,它依據(jù)預(yù)先定義的PCB的設(shè)計(jì)規(guī)則來(lái)判斷待檢PCB圖象是否有瑕疵,如果它不符合設(shè)計(jì)規(guī)則,就認(rèn)為有瑕疵,因此也稱為設(shè)計(jì)規(guī)則校驗(yàn)法。可以檢測(cè)系統(tǒng)可以檢查出元件的缺失, 偏移和歪斜及元件極性缺陷。

AOI為客戶提供專業(yè)、及時(shí)、的技術(shù)服務(wù)。憑著的設(shè)備性能、完善的售后服務(wù)，在智能制造、工業(yè)4.0的大潮中，明銳人將秉持“誠(chéng)信為本、服務(wù)客戶、精益求精”的核心價(jià)值觀，以對(duì)“創(chuàng)新和品質(zhì)”的持續(xù)探求，成為業(yè)界的視覺(jué)檢查方案供應(yīng)商，用智慧與心血為世界重新定義“視覺(jué)與智能”的內(nèi)涵。狹義的AOI設(shè)備則指工業(yè)上急需使用，在IC及一般電子業(yè)、機(jī)械工具/自動(dòng)化機(jī)械、電機(jī)/電子工業(yè)、金屬鋼鐵業(yè)、食品加工/包裝業(yè)、紡織皮革工業(yè)、汽車工業(yè)、建筑材料、保全/監(jiān)視系統(tǒng)等。

波長(zhǎng)光源也就是一般現(xiàn)代工業(yè)AOI檢測(cè)設(shè)備中的紅綠藍(lán)LED光源。特殊波長(zhǎng)光源一般是指紅外或紫外波長(zhǎng)光源，一些特殊材料在可見(jiàn)光范圍內(nèi)吸收差別不大，灰階變化不明顯時(shí)可以考慮采用特殊波長(zhǎng)光源，比如說(shuō)利用紫外光能量高可以激發(fā)熒光材料的原理，檢測(cè)具有熒光發(fā)光特性物質(zhì)微殘留時(shí)紫外光源就是一種比較有效的手段，因材料成分與紅外光譜有對(duì)應(yīng)關(guān)系的原理，紅外光源對(duì)不具有發(fā)光性質(zhì)的有機(jī)化合物殘留缺陷檢出就有很大的作用，甚至可以實(shí)現(xiàn)成分分析。AOI四個(gè)檢測(cè)位置中,錫膏印刷之后、(片式)器件貼放之后和元件貼放之后的檢測(cè)目的在于預(yù)防問(wèn)題,在這幾個(gè)位置檢測(cè),能夠阻止缺陷的產(chǎn)生。特殊光源中，利用偏振光與物體相互作用后偏振態(tài)的變化，利用光學(xué)干涉原理的白光干涉（white light interferometry）在特定缺陷檢測(cè)中的得到了應(yīng)用，例如通過(guò)相干光的干涉圖案計(jì)算出對(duì)應(yīng)的相位差和光程差，可以測(cè)量出被測(cè)物體與參考物體之間的差異，且分辨率與精度為可以達(dá)到亞波長(zhǎng)，測(cè)量三維物體形貌與高度也正成為AOI檢測(cè)的新需求。