廢舊電池的回收

振鑫焱光伏科技有限責任公司長期購置：天價回收硅片，電池片，初中級多晶硅，銀漿布，單晶硅，多晶硅，太陽電池，太陽能組件，太陽能光伏板，顧客撤離，退級，庫存量，El，欠佳檢測，2手，舊，工程項目，拆裝，道路路燈，拆卸發(fā)電廠，拆裝，人造板，層壓板，無界限結(jié)晶硅，多晶硅，單晶硅，試驗板，負債還款，返修，太陽能發(fā)電控制模塊收購等。 

美國是在廢舊電池自然環(huán)境管理工作法律數(shù)較多較細的1個國家，不但創(chuàng)建了健全的廢電池回收管理體系，并且創(chuàng)建了好幾家廢舊電池處理站，一起鍥而不舍向群眾開展主題教育，讓群眾主動地適用和相互配合廢舊電池的收購工作中。

對廢舊電池的綜合利用應當有嚴苛的程序流程： 

（1）置放專用型的廢舊電池回收桶；

（2）按時專職人員上門服務搜集；

（3）充電電池歸類；

（4）倉庫歸類并安全性存儲；

（ 5）集中化到必須總數(shù)后運到專業(yè)的處理站；

（6）解決運用稀缺金屬鎘。

電池片的檢驗

振鑫焱光伏科技有限公司常年采購：高價回收硅片，電池片，初級多晶硅，銀漿布，單晶硅，多晶硅，太陽能電池，光伏組件，太陽能電池板，客戶撤退，降級，庫存，El，不良測試，二手，舊，工程，拆卸，路燈，拆解電站，拆卸，膠合板，層壓板，無邊界晶體硅，多晶硅，單晶硅，實驗板，債務償還，返工，光伏模塊回收等。

STF 印制：

A 級：

標識要有虛印、粗印現(xiàn)象（字母線寬度應小于 0.22mm   ）但仍可辨識時作為 A 級。若標識存在缺印但仍可辨識時，按字母高度的 1/3 判定，缺失長度小于字母高度 1/3 。

B 級：

標識要有虛印、粗印現(xiàn)象，字母線寬度應小于 0.22mm   ，但仍可辨識時，如實心“ P ”，若標識存在缺印但仍可辨識時，按字母高度的

1/3 判定，缺失長度小于字母高度 1/3 。

C 級：

若字母變形或無法辨識時直接降為 C 級。

新的標準與舊的相同

缺陷片：

1．   主柵線或副柵線或背電極或背電場超出 c 級降級片的要求時，但仍有利用價值的片子。

2．   由于存儲不當造成成電極氧化時，直接以報廢片處理

3．   僅印刷烘干而沒有經(jīng)過燒結(jié)的電池片，如果還有利用價值，則租鋪位缺陷片處理

4．   完全未印制背電場的電池片作缺陷片處理。

5．   疊片仍有利用價值的作為缺陷片，如果全疊片則作為報廢片處理。

電池片的制作工藝

刻蝕工藝

刻蝕目的

將硅片邊緣的帶有的磷去除干凈，避免 PN 結(jié)短路造成并聯(lián)電阻降低。

刻蝕原理

采用干法刻蝕。采用高頻輝光放電反應， 采用高頻輝光放電反應，使反應氣體激活成活性粒子，如原子或各種游離基，這些活性粒子擴散到硅片邊緣，在那里與硅進行反應，形成揮發(fā)性生成物四氟化硅而被去除。

化學公式： CF 4 SIO 2 =SIF 4 CO 2

工藝流程

預抽，主抽，送氣，輝光，抽空，清洗，預抽，主抽   ，充氣。

影響因素

1. 射頻功率

射頻功率過高：等離子體中離子的能量較高會對硅片邊緣造成較大的轟擊損傷，導致邊緣區(qū)域的電性能差從而使電池的性能下降。在結(jié)區(qū)（耗盡層）造成的損傷會使得結(jié)區(qū)復合增加。

射頻功率太低：會使等離子體不穩(wěn)定和分布不均勻，從而使某些區(qū)域刻蝕過度而某些區(qū)域刻蝕不足，導致并聯(lián)電阻下降。

2. 時間

刻蝕時間過長：刻蝕時間越長對電池片的正反面造成損傷影響越大，時間長到一定程度損傷不可避免會延伸到正面結(jié)區(qū)，從而導致?lián)p傷區(qū)域高復合。

刻蝕時間過短：刻蝕不充分，沒有把邊緣鱗去干凈， PN 結(jié)依然有可能短路造成并聯(lián)電阻降低。

4.   壓力

壓力越大，氣體含量越少，參與反應的氣體也越多，刻蝕也越充份。

太陽電池片標準

5 、 檢測方法

5.1 設計和結(jié)構(gòu)

5.1.1   基體材料

電池的基體材料應按相關詳細規(guī)范的要求及檢測方法進行檢測。

5.1.2   電極

5.1.2.1  電池電極的完整性、電極圖形位移的檢驗應使用分辨力優(yōu)于 0.01mm 的標準尺測量。

5.1.2.2 在照度不小于 800Lux 的白色光源下，目測電極是否變色。

5.1.2.3 電池電極的導電性按 GB/T17473.3  進行。

5.1.2.4 電池電極的可焊性按 GB/T17473.7  進行。

5.1.3 背面鋁膜

5.1.3.1 背面鋁膜與基體材料的匹配性檢測

通過檢測電池的彎曲變形，驗證背面鋁膜材料的熱膨脹系數(shù)與基體材料的匹配性。適用表面平整度優(yōu)于 0.01mm 平臺，電池背面朝下水平放置，用分辨力優(yōu)于 0.01mm 的量具進行檢驗。

5.1.3.2 背面鋁膜與基體材料的附著強度測驗

如圖 2 所示放置樣品，在滿足 EVA 充分交聯(lián)的條件下壓層，取出后立即撕下四氟布，待冷卻到室溫后，用刀割斷 EVA 和鋁膜，撕去 EVA 條，觀察有無鋁膜脫落。

5.1.3.3 背面鋁膜外觀檢驗

背面鋁膜的凸起高度應使用分辨力優(yōu)于 0.01mm 的帶標尺的光學顯微鏡測量，圖形缺陷采用目測。圖形位移采用分辨力優(yōu)于 0.02mm 的卡尺測量。

5.1.3.4 背面鋁膜的導電性檢測背面鋁膜的導電性按GB/T17473.3 進行。

5.1.4  減反射膜附著強度檢測

減反射膜附著強度的測試采用膠帶試驗測定粘合性的方法，膠帶附著強度不小于 44N/mm 。具體按 ASTM3359 進行，減反射膜不脫落。