EMC測試介紹

EMC測試分為電磁干擾EMI和電磁敏感性，即抗干擾EMS，靜電放電抗擾度是EMS中的一個測試項目，因為帶靜電的物體進行放電時會產(chǎn)生放電電流，這個放電電流會產(chǎn)生短暫的強度很大的電磁場。放電時產(chǎn)生短暫的放電電流和相應(yīng)的電磁場可能引起電氣、電子設(shè)備的電路發(fā)生故障，甚至損壞。靜電放電試驗的目的就是檢驗電氣、電子設(shè)備在遭受這類靜電放電騷擾時的性能。

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EMC：Electromagnetic compatibility 電磁兼容性

EMC定義：在同一電磁環(huán)境中，設(shè)備能夠不因為其他設(shè)備的干擾影響正常工作，同時也不對其他設(shè)備產(chǎn)生影響工作的干擾。

EMC三要素，缺少任何一個都構(gòu)不成EMC問題。

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電磁兼容的研究發(fā)展

電磁兼容的研究是隨著電子技術(shù)逐步向高頻、高速、高可靠性、高靈敏度、高密度（小型化、大規(guī)模集成化），大功率、小信號運用、復(fù)雜化等方面的需要而逐步發(fā)展的。特別是在計算機、通信設(shè)備和潛艇中大量采用現(xiàn)代電子技術(shù)后，使電磁兼容問題更加突出。

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電磁兼容設(shè)計要求

在進行電磁兼容設(shè)計時要求：①明確系統(tǒng)的電磁兼容指標(biāo)。電磁兼容設(shè)計包括本系統(tǒng)能保持正常工作的電磁干擾環(huán)境和本系統(tǒng)干擾其它系統(tǒng)的允許指標(biāo)。②在了解本系統(tǒng)干擾源、被干擾對象、干擾途徑的基礎(chǔ)上，通過理論分析將這些指標(biāo)逐級分配到各分系統(tǒng)、子系統(tǒng)、電路和元件、器件上。③根據(jù)實際情況，采取相應(yīng)措施抑制干擾源，消除干擾途徑，提高電路的抗干擾能力。④通過實驗來驗證是否達到了原定的指標(biāo)要求，如未達到則進一步采取措施，循環(huán)多次，直至達到原定指標(biāo)為止。

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