直讀光譜儀中小試樣分析的硬件需求

在材質(zhì)分析中，直讀光譜儀以其、快捷、準(zhǔn)確性高等特性正在逐步的取代傳統(tǒng)的化學(xué)分析方法，但分析材質(zhì)中的小試樣分析一直是個難點。

困難在于硬件和軟件兩個方面。東方分析儀器有限公司的分析程序無論是算法還是結(jié)構(gòu)都早已攻克了軟件困難。今天主要討論一下硬件方面。

光電直讀光譜儀分析試樣有基本要求，試樣與激發(fā)臺的接觸面應(yīng)為大于激發(fā)孔的平面。因此許多小尺寸的試樣不能直接在光譜儀上測定。我公司針對這一問題采用了兩種方案來解決。

1、氮化硼片輔助測量

氮化硼片如下圖所示，形狀為一圓環(huán)，厚度1mm，內(nèi)徑為4~6mm，氮化硼片的增加有效的減小了激發(fā)孔外徑，因此對于試樣直徑在6mm以下的試樣可以用氮化硼片輔助進(jìn)行測量。

1、小試樣夾具輔助測量

用夾具將試樣夾住，通過定位孔將試樣放置于與電極相對的位置，進(jìn)行測量，試樣要磨平頂端激發(fā)處。小試樣夾具可輔助測量直徑在5mm-11mm的試樣。

直讀光譜儀檢測鉛合金的要求

電極的頂1尖應(yīng)當(dāng)具有一定角度使光軸不得偏離中心。放電間隙應(yīng)當(dāng)保持不變，否則聚焦在分光儀的譜線強度會改變。

試樣不能有偏析、裂紋、氣孔等缺陷，試料要有一定代表性。

出射狹縫的位置變化受溫度的影響較大，因此保持分光室內(nèi)的恒溫系統(tǒng)32C±0.1C很重要還要求室內(nèi)保持溫度一致，使出射狹縫很難偏離。

電源電壓變化容易引起激發(fā)單元的放電電壓的改變，電源電壓要求10%以內(nèi)。溫度和濕度的變化。

室內(nèi)溫度的增加會增加光電倍增管的暗電流，濕度大容易產(chǎn)生高壓元件的漏電、放電現(xiàn)象，使分析結(jié)果產(chǎn)生不穩(wěn)定。

直讀光譜儀的儀器原理

朗鐸科技——專業(yè)直讀光譜儀供應(yīng)商，我們?yōu)槟鷰硪韵滦畔ⅰ?

金屬試樣（電極）與電極之間進(jìn)行電弧、電火花放電，對由此產(chǎn)生的輝線光譜進(jìn)行光電測定，進(jìn)行所含元素的定量方法。分析試樣使用光源電源激發(fā)，這時產(chǎn)生的光通過聚光透鏡由入口狹縫進(jìn)入，導(dǎo)向凹面衍射光柵上，只讀取在凹面衍射光柵上分光的光中所需的光譜線，使用儀器上的光電 倍增管將光轉(zhuǎn)化成電流。隨后1948年意大利的GNR公司個采用了帕刑隴格分光器，大大推進(jìn)了直讀光譜儀的發(fā)展。

直讀光譜儀的校準(zhǔn)手段有哪些?

A 光譜儀的校準(zhǔn)如下：

描跡是對光譜儀的光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行的校準(zhǔn)。這是校準(zhǔn)的首要前提。在此條件下可進(jìn)行如下校準(zhǔn)： 標(biāo)準(zhǔn)化即再校準(zhǔn)工作曲線，然后可用到的校準(zhǔn)方法有：

(1)、修改持久工作曲線法（修改標(biāo)準(zhǔn)化參數(shù)）

(2)、控樣法；

(3)、類型標(biāo)準(zhǔn)化法。

B (1).機械校準(zhǔn)

(2).光學(xué)校準(zhǔn)

(3).電氣校準(zhǔn)

(4).軟件校準(zhǔn)

C我覺得校準(zhǔn)應(yīng)該是包括硬件校準(zhǔn)和軟件校準(zhǔn)。

硬件包括狹縫校準(zhǔn)、入射窗口清潔、負(fù)高壓系統(tǒng)、光電轉(zhuǎn)換等。這是儀器正常工作的先覺條件。

軟件包括：完全標(biāo)準(zhǔn)化，類型標(biāo)準(zhǔn)化（控樣校準(zhǔn)）等。完全標(biāo)準(zhǔn)化是用于校正儀器的漂移而引起的工作曲線的變化。而控樣校準(zhǔn)可以修正樣品冶煉方式與工作曲線（即與做工作曲線的標(biāo)樣的冶煉方式的差異）。

儀器的校準(zhǔn)應(yīng)先由硬件開始，然后才是軟件。

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