沉銅&板電

工作原理

在經(jīng)過活化、加速等相應(yīng)步驟處理后，孔壁上非導(dǎo)體表面已均勻分布著有催化活性的鈀層，在鈀金屬的催化和堿性條件下，甲醛會離解（氧化）而產(chǎn)生還原性的氫。  HCHO OH-   Pd催化  HCOO   H2↑ 接著是銅離子被還原:

Cu2 H2 2OH-  → Cu 2H2O

上述析出的化學(xué)銅層,又可作自我催化的基地,使Cu2 在已催化的基礎(chǔ)上被還原成金屬銅,因此接連不斷完成要求之化學(xué)銅層。

線路板板材

FR-1：　阻燃覆銅箔酚醛紙層壓板。IPC4101詳細(xì)規(guī)范編號 02;Tg N/A;

FR-4：

1)阻燃覆銅箔環(huán)氧E玻纖布層壓板及其粘結(jié)片材料。IPC4101詳細(xì)規(guī)范編號 21;Tg≥100℃;

2)阻燃覆銅箔改性或未改性環(huán)氧E玻纖布層壓板及其粘結(jié)片材料。IPC4101詳細(xì)規(guī)范編號 24;Tg 150℃~200℃;

3)阻燃覆銅箔環(huán)氧/PPO玻璃布層壓板及其粘結(jié)片材料。IPC4101詳細(xì)規(guī)范編號 25;Tg 150℃~200℃;

4)阻燃覆銅箔改性或未改性環(huán)氧玻璃布層壓板及其粘結(jié)片材料。IPC4101詳細(xì)規(guī)范編號 26;Tg 170℃~220℃;

5)阻燃覆銅箔環(huán)氧E玻璃布層壓板(用于催化加成法)。IPC4101詳細(xì)規(guī)范編號 82;Tg N/A;94v_0cem-1

檢測修理

帶程序的芯片

 1.EPROM芯片一般不宜損壞.因這種芯片需要紫外光才能擦除掉程序, 故在測試中不會損壞程 序.但有資料介紹:因制作芯片的材料所致,隨著時間的推移(年頭長了),即便不用也有可能損壞(主要指程序).所以要 盡可能給以備份.

 2.EEPROM,SPROM等以及帶電池的RAM芯片,均極易破壞程序.這類芯片 是否在使用<測試儀>進(jìn)行VI曲線掃描后,是否就破壞了程序,還未有定論.盡管如此,同仁們在遇到這種情況時,還是小心為妙.筆者曾經(jīng)做過 多次試驗(yàn),可能大的原因是:檢修工具(如測試儀,電烙鐵等)的外殼漏電 所致.

 3.對于電路板上帶有電池的芯片不要輕易將其從板上拆下來.

發(fā)展前景

劣勢

產(chǎn)品同質(zhì)性高，gao端板比重低，成本轉(zhuǎn)嫁能力弱

激烈的價格競爭，各公司無法把成本上升因素轉(zhuǎn)嫁給用戶，只能靠自身因素去消化，在材料成本不斷上升的情況下，PCB價格不會出現(xiàn)大的變化，而一旦材料成本下降，激烈的競爭使價格下降。

本土企業(yè)產(chǎn)品規(guī)模結(jié)構(gòu)和關(guān)鍵技術(shù)不足

中小型和民營廠商的生產(chǎn)能力和技術(shù)水平都在低級產(chǎn)品沒有被國際接受的工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)