用內(nèi)徑千分尺測量測量孔徑方法

用內(nèi)徑千分尺測量測量孔徑方法：將其測量觸頭測量面支承在被測表面上，調(diào)整微分筒，使微分筒一側(cè)的測量面在孔的徑向截面擺動，找出尺寸。然后，在孔的軸向截面內(nèi)擺動，找出尺寸。此調(diào)整需反復(fù)幾次進行，后旋緊螺釘，取出內(nèi)徑千分尺并讀數(shù)。測量兩平行平面之間的距離時，應(yīng)沿多方向擺動千分尺，取其尺寸為測量結(jié)果。

測量時注意事項：

測量觸頭和圓錐構(gòu)件的區(qū)別

由于隨著圓錐角變陡峭而測量觸頭在圓錐構(gòu)件的圓錐面上滑動時對滑動面施加的負荷增大，測量觸頭在圓錐構(gòu)件上滑動的部分產(chǎn)生的摩擦力大于以往，因此，有可能導(dǎo)致測量觸頭及圓錐構(gòu)件的耐久性降低。另外，以往測桿的移動量與傳遞到測量觸頭的移動量為相同的比率，但若圓錐構(gòu)件的圓錐角變大，則測桿的移動量被傳遞到測量觸頭時會放大。即，由于以測桿較少的移動量使測量觸頭移動較大，因此，存在測量精度惡化這樣的問題。

現(xiàn)將干分尺示值誤差超差時經(jīng)常出現(xiàn)的三種基本情況分別進行確定研

現(xiàn)將干分尺示值誤差超差時經(jīng)常出現(xiàn)的三種基本情況分別進行確定研磨量的分析：

(1)各點示值誤差為正值時，說明零位以外各點所對應(yīng)的絲桿螺紋工作面的磨損程度比零位小，這種情況常見于測量下限等于或大于25mm 的干分尺，如果經(jīng)常使用零位附近的部位，就會出現(xiàn)上種情況。修理方法應(yīng)為：按照示值誤差的大小，示值誤差大的部位多研，小的則少研。為提高研磨效率，在研磨時把微分筒稍向后右用力。

(2)當(dāng)示值誤差均勻為負值超差時，這種情況表現(xiàn)零位附近所對應(yīng)的絲桿螺紋的工作面磨損程度比其它工作面小，此時應(yīng)研磨零位附近的絲桿螺紋工作面。為方便研磨，可在確定絲桿的研磨部位后，把絲桿取出，再調(diào)頭旋入原尺架螺母中，也可以把絲桿旋入測量下限大于或等于25mm的干分尺尺架中，進行研磨。