超高速數(shù)據(jù)采集技術(shù)發(fā)展趨勢

除了屬于通用儀器的超高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)以外，對(duì)于其它超高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)而言，基于標(biāo)準(zhǔn)總線、具有海量數(shù)據(jù)存儲(chǔ)深度、高速信號(hào)處理性能和超高速A/D所組成的超高速數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)已經(jīng)成為當(dāng)今發(fā)展趨勢。在設(shè)計(jì)和選用系統(tǒng)時(shí)，就要有這四方面的考慮，即不但要考慮超高速數(shù)據(jù)采集部分，還要考慮其標(biāo)準(zhǔn)總線接口、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)深度和處理器的性能，因?yàn)橄到y(tǒng)的整體性能已不單是超高速數(shù)據(jù)采集部分的性能，標(biāo)準(zhǔn)總線接口、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)深度和DSP也已成為評(píng)價(jià)系統(tǒng)整體性能的重要指標(biāo)。對(duì)于不同應(yīng)用領(lǐng)域或不同的應(yīng)用環(huán)境和要求，系統(tǒng)的這四個(gè)組成部分會(huì)有所區(qū)別。

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超高速采集板卡——數(shù)字輸出選擇

1.儀表促進(jìn)了更快的ADC速度和更多的通道數(shù)與密度，設(shè)計(jì)者必須評(píng)估轉(zhuǎn)換器的輸出格式，以及基本的轉(zhuǎn)換性能。2.主要的輸出選項(xiàng)是CMOS(互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體)、LVDS(低壓差分信令)，以及CML(電流模式邏輯)。3.要考慮的問題包括：功耗、瞬變、數(shù)據(jù)與時(shí)鐘的變形，以及對(duì)噪聲的抑制能力。4.對(duì)于布局的考慮也是轉(zhuǎn)換輸出選擇中的一個(gè)方面，尤其當(dāng)采用LVDS技術(shù)時(shí)。

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超高速ADC采集板卡

高速數(shù)據(jù)采集卡作為進(jìn)行相關(guān)超聲測量的理想工具,在開發(fā)、測試、操作超聲產(chǎn)品中可以發(fā)揮關(guān)鍵作用。高速數(shù)據(jù)采集卡和任意波形發(fā)生器提供寬范圍的帶寬、采樣率和動(dòng)態(tài)范圍，能夠匹配超聲測量的的相關(guān)需求。

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數(shù)據(jù)采集卡輸出路數(shù)比輸入路數(shù)少是怎么實(shí)現(xiàn)信號(hào)傳輸?shù)模?/strong>