超聲波顯微鏡是通過像素pixel進行體現(xiàn)，然而光學鏡卻以CCD攝像頭為主，也正因為結(jié)構(gòu)上的差異，所以超聲波掃描顯微鏡的價格是普通工顯鏡的數(shù)倍，不僅如此，它們的應用領(lǐng)域也有著極大的差距，超聲波掃描顯微鏡幾乎囊括了光學顯微鏡的所有領(lǐng)域，而且它尤其在材料半導體行業(yè)應用更廣。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。


微光顯微鏡偵測不到亮點之情況：不會出現(xiàn)亮點的故障 - 歐姆接觸；金屬互聯(lián)短路；表面反型層；硅導電通路等。亮點被遮蔽之情況 - Buried Juncti及Leakage sites under metal，這種情況可以采用backside模式，但是只能探測近紅外波段的發(fā)光，且需要減薄及拋光處理。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。





微光顯微鏡光發(fā)射顯微鏡是器件分析過程中針對漏電失效模式，的分析工具。器件在設(shè)計、生產(chǎn)制造過程中有絕緣缺陷，或者期間經(jīng)過外界靜穿，均會造成器件漏電失效。漏電失效模式的器件在通電得狀態(tài)下，內(nèi)部形成流動電流，漏電位置的電子會發(fā)生遷移，形成電能向光能的轉(zhuǎn)化，即電能以光能的方式釋放，從而形成200nm~1700nm紅外線。光發(fā)射顯微鏡主要利用紅外線偵測器，通過紅外顯微鏡探測到這些釋放出來的紅外線，從而的定位到器件的漏電點。

顯微觀察技術(shù)是一-種可以提供化學鍵合以及材料的分子結(jié)構(gòu)的相關(guān)信息的失效分析技術(shù)，不論對象是有機物還是無機物。通常被用來確定樣品表面的未知材料，一般是用作對EDX分析的補充。蘇州特斯特電子科技有限公司，主要從事各類測試、檢測儀器設(shè)備的代理銷售和技術(shù)服務，產(chǎn)品涵蓋電子元器件，電路板，線纜線束的測試與檢測。