KOAN 高穩(wěn)恒溫晶振 SC 切晶體之優(yōu)點

a) 開機特性好，SC 切諧振器的熱過沖比 AT 切晶體諧振器約小兩個數(shù)量級，因此 SC 切晶體振蕩器加電后能很快達到頻率穩(wěn)定；

b) 老化小，SC 切晶體的應(yīng)力效應(yīng)很小，由應(yīng)力馳豫引起的老化也小；

c) 幅頻效應(yīng)小，SC 切晶振的幅頻效應(yīng)大約是 AT 切晶振的一半，因此 SC

切晶體的激勵電平可比 AT 切晶體大一個數(shù)量級，老化不會增加；

d) 恒溫晶振 SC 切短期頻率穩(wěn)定性，抗輻射，抗加速度都非常好。

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KOAN 恒溫晶體振蕩器老化成因

晶體老化是因為在生產(chǎn)晶體的時候存在應(yīng)力、污染物、殘留氣體、結(jié)構(gòu)工藝缺陷等問題。應(yīng)力要經(jīng)過一段時間的變化才能穩(wěn)定，一種叫“應(yīng)力補償”的晶體切割方法（SC 切割法）使晶體有較好的特性。污染物和殘留氣體的分子會沉積在晶體片上或使晶體電極氧化，這種影響要經(jīng)過一段較長的時間才能逐漸穩(wěn)定，而且這種穩(wěn)定隨著溫度或工作狀態(tài)的變化會有反復——使污染物在晶體表面再度集中或分散。因此，頻率低的晶振比頻率高的晶振、工作時間長的晶振比工作時間短的晶振、連續(xù)工作的晶振比斷續(xù)工作的晶振的老化率要好。

影響 KOAN 恒溫晶振頻率漂移（老化）的主要機理

1) 引起晶振頻率漂移的是石英諧振器的參數(shù)，動態(tài)電容和動態(tài)電感隨時間而變化；

2) 加在石英片的機械應(yīng)力變化引起的頻率漂移，稱為馳豫效應(yīng)；

3) 晶片表面污染和或封裝盒內(nèi)部污染也是造成諧振器老化的一個重要原因；

4) 流過諧振器激勵電流的大小對老化率有影響；

5) 振蕩電路和恒溫控制電路中有源和無源元件的老化也會影響振蕩頻率的老化率。

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KOAN 恒溫晶振 OCXO 的負載效應(yīng)概念

晶振的負載效應(yīng)定義為空載輸出相對頻率與加額定負載后的輸出相對頻率之差。一般高穩(wěn)晶振加電阻，電容，電感性負載后所引起的相對頻率變化大約在 0.2ppb 左右，而恒溫晶振的老化率一般也在 0.2ppb/天左右，因此需要設(shè)法改善負載效應(yīng)，以保證負載變化時，振蕩器有較高的頻率準確度。而負載特性不好的一個主要原因是振蕩電路的地線和電源線存在一定的阻抗。

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