顯示屏檢測壞點(diǎn)會(huì)有什么缺點(diǎn)？

AOI全自動(dòng)光學(xué)檢測儀器?有一個(gè)較大的缺陷是有一些灰度或者黑影明暗交界線并不是很顯著的地區(qū)，較為非常容易發(fā)生錯(cuò)判的狀況，這種也許能夠 應(yīng)用不一樣色調(diào)的燈光效果來多方面辨別，但不便的或是這些被別的零件遮住到的元器件及其坐落于元器件下邊的點(diǎn)焊，由于傳統(tǒng)式的AOI只有檢驗(yàn)照射光源能夠抵達(dá)的地區(qū)，好像屏蔽掉框肋骨或者其邊沿下邊的元器件，通常便會(huì)由于AOI檢測不上而跳開。顯示屏檢測壞點(diǎn)已變成電子器件加工制造業(yè)保證產(chǎn)品品質(zhì)的關(guān)鍵測試工具和全過程質(zhì)量管理工具，也是工業(yè)生產(chǎn)4.0時(shí)期智能制造系統(tǒng)全過程中關(guān)鍵的一環(huán)，可以為公司產(chǎn)生實(shí)際性的經(jīng)濟(jì)收益，提高公司的競爭優(yōu)勢。

顯示屏檢測壞點(diǎn)的關(guān)鍵是什么？

快速圖象數(shù)據(jù)處理方法也是顯示屏檢測壞點(diǎn)系統(tǒng)的關(guān)鍵之一。因?yàn)锳OI檢測是根據(jù)圖象感測器方法獲得被測信息內(nèi)容的，尤其是快速在線監(jiān)測，圖象數(shù)據(jù)信息有時(shí)候是大量的，為達(dá)到生產(chǎn)節(jié)拍要求，務(wù)必選用快速數(shù)據(jù)處理方法技術(shù)性。會(huì)選用共享內(nèi)存、分布式系統(tǒng)運(yùn)行內(nèi)存多進(jìn)程解決、分布式系統(tǒng)電子計(jì)算機(jī)群集等方法，把極大的圖象分時(shí)圖、分層切分成一小塊數(shù)據(jù)流分析，分散化到群集系統(tǒng)軟件各連接點(diǎn)解決。顯示屏檢測壞點(diǎn)針對用時(shí)繁雜的優(yōu)化算法，有時(shí)候只靠電子計(jì)算機(jī)CPU難以達(dá)到時(shí)間規(guī)定，還需配置如DSP、GPU和FPGA等硬件配置解決控制模塊，協(xié)作完成迅速繁雜的測算難點(diǎn)。

顯示屏檢測壞點(diǎn)在業(yè)內(nèi)的共識

因?yàn)?span style="color:red;font-weight:bold;">顯示屏檢測壞點(diǎn)借助折射光來開展剖析和判斷，但有歲月會(huì)遭受一些隨機(jī)因素的影響而導(dǎo)致錯(cuò)判。如元器件焊端有臟污或焊層側(cè)的印刷線有一部分未開展涂覆有一部分外露，進(jìn)而導(dǎo)致檢索欠佳等。而且檢驗(yàn)新項(xiàng)目越多，很有可能導(dǎo)致的亂報(bào)也會(huì)稍多。該類亂報(bào)屬任意亂報(bào)，沒法清除。根據(jù)此，顯示屏檢測壞點(diǎn)業(yè)內(nèi)普遍現(xiàn)象一個(gè)的共識，即AOI亂報(bào)難以避免，但能夠 降低。業(yè)內(nèi)認(rèn)可的理想化情況下可接受誤測為3000PPM之內(nèi)。如今人工智能技術(shù)的發(fā)展趨勢，機(jī)器視覺技術(shù)已引進(jìn)深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化算法，可能降低AOI檢測錯(cuò)判，后邊大家再與大伙兒一起溝通交流人工智能技術(shù)新技術(shù)應(yīng)用AOI機(jī)器設(shè)備，智能化圖象剖析技術(shù)性的深度神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)優(yōu)化算法。