UV-PLUS光學(xué)系統(tǒng)是純凈的，同時具有杰出的長期穩(wěn)定性。系統(tǒng)在120-180nm波段透光效率，運行成本很低。

的光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計與UV-PLUS概念相結(jié)合，能夠同時以高達9pm的光譜分辨率記錄120-800nm波段的全部一級光譜圖。這一核心技術(shù)奠定了SPECTROLAB杰出分析性能的重要基礎(chǔ)。

適合分析材料：黑色金屬、有色屬、稀土金屬無機物、礦石、陶瓷等物質(zhì)

應(yīng)用領(lǐng)域：冶金、機械、商檢、科研、化工等行業(yè)中

特點：準(zhǔn)確、快速、靈敏度高的特點

高低碳硫含量均使用技術(shù)指標(biāo)：（1）測量范圍:0.1g~0.5g碳Carbon0.00002%~15%(上限可擴展至100%)硫Sulfur0.00002%~5%（2）小讀數(shù):0.00001%（3）儀器精度:碳1ppm或RSD￡0.5%硫1ppm或RSD￡1.0%（4）分析時間:20-40秒（5）電子天平稱量范圍:0.001g~100g 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

德國斯派克分析儀器公司SPECTRO全新研發(fā)的垂直同步雙觀測（DSOI）技術(shù)為提升ICP-OES的靈敏度提供了一種全新的解決方案。采用該技術(shù)解決了等離子體觀測的核心問題，靈敏度是傳統(tǒng)垂直觀測等離子體儀器的數(shù)倍，性能價格比優(yōu)異。

SPECTRO的垂直同步雙觀測（DSOI）方式，使用兩個光學(xué)接口捕獲來自垂直等離子體的發(fā)射光，使得微弱信號的檢測能力大幅提升，同時又允許高濃度、重基體進樣。進一步降低了記憶效應(yīng)和污染風(fēng)險。測試尖銳或線狀材料時，應(yīng)注意保護測試窗口，防止被測樣品進入測試腔體，損壞檢測器鈹窗。DSOI技術(shù)將傳統(tǒng)垂直觀測系統(tǒng)的靈敏度提高了數(shù)倍，避免了垂直雙觀測結(jié)構(gòu)的復(fù)雜缺點和降低了用戶使用成本。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制

光譜儀維修必學(xué)的準(zhǔn)則

“先軟后硬”，先檢查軟件程序運行是否正常，再分析硬件運行是否有問題。隨著科學(xué)技術(shù)水平的發(fā)展，電腦在光譜儀中應(yīng)用，使儀器的檢測水平大幅度的提高，功能更趨近于智能化，許多故障都是通過電腦自帶的故障診斷程序，進行綜合全的檢測，如當(dāng)儀器顯示真空不良、溫度異常、壓力異常、無積分信號、通訊中斷等顯示時，我們必須是在此基礎(chǔ)之上，順藤摸瓜沿電腦指示的異常信息，去檢查所對應(yīng)的硬件，這樣可以很快的找到故障的根源，縮短維修時間，提高工作效率。UV-PLUS專利光學(xué)系統(tǒng)：SPECTROLAB的光學(xué)系統(tǒng)集合了兩種檢測器的優(yōu)勢：光電倍增管和CCD檢測器。 次數(shù)用完API KEY 超過次數(shù)限制